光譜透射測量應(yīng)用解決方案

透射光譜法根據(jù)光透過樣品后所呈現(xiàn)的光譜來表征樣品的某些特征，具有測量精度高、測量范圍廣、非破壞性、在線快速測量及一次性可同時測定樣品的多個參數(shù)等諸多優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用在科研和工業(yè)領(lǐng)域。

根據(jù)待測樣品形態(tài)不同，可以分為固體透射測量和液體透射測量。

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固體透射測量

固體透射測量系統(tǒng)

固體投射測量系統(tǒng)工作原理：光源輸出光通過光纖連接透反射支架上端，光透射待測樣品后被支架下端收集，并經(jīng)光纖傳輸至光譜儀。

KEWLAB同時為您提供固體透射測量系統(tǒng)需要的光譜儀以及附件：光源、光纖、透反射支架，您可以根據(jù)待測樣品進(jìn)行選擇，也可以直接聯(lián)系咨詢KEWLAB咨詢。

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光源

鹵鎢燈光源 LED光源 氘-鹵鎢燈光源

根據(jù)待測樣品的波長敏感范圍選擇合適的光源，鹵鎢燈光源可測光譜范圍360～2500nm；近紅外光源可測光譜范圍800～2500nm；氘-鹵鎢燈光源可測光譜范圍190～2500nm，同時KEWLAB還提供各種單色與白光LED光源供您選擇。

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透反射樣品支架

ST-RT 該支架包括可調(diào)滑軌、底座、樣品臺以及兩個準(zhǔn)直透鏡，其中上端準(zhǔn)直透射將光纖出射光準(zhǔn)直輸出到待測樣品上，下端準(zhǔn)直透鏡將透射樣品后的光收集耦合入光纖。樣品臺上放置待測樣品。支架側(cè)邊有可調(diào)滑軌，根據(jù)實(shí)際樣品尺寸調(diào)節(jié)光程。

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光譜儀

RGB-ER-CL光譜儀 采用交叉非對稱C-T光路結(jié)構(gòu)，配置先進(jìn)的CMOS探測器，是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的通用型微型光纖光譜儀，適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測量應(yīng)用，具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動態(tài)范圍的特點(diǎn)。

RGB-ER-CL的探測器響應(yīng)范圍為200～1000nm，RGB-VIS-NIR-CL的波長范圍為400～1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對其它波段200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm，可以提供定制。

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粗糙表面樣品透射測量

對于表面粗糙的樣品，透射測量時還需配置積分球，系統(tǒng)搭建如下圖所示。擰下透反射支架下端的準(zhǔn)直透鏡，將積分球置于透射孔正下方，并調(diào)節(jié)樣品臺面至合適高度。

粗糙表面透射測量（示意）系統(tǒng)

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積分球

積分球ISI-50 輻射型，一個采樣端口，一個測量端口。測量時，透射樣品的光進(jìn)入采樣端口，光纖測量端口將光傳輸至光譜儀。

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液體透射測量

液體透射測量系統(tǒng)如下圖所示，與固體透射測量系統(tǒng)的區(qū)別就是用四向試管支架替換透反射樣品支架。試管支架的四面均連接一個準(zhǔn)直透鏡，兩兩相對。

液體透射測量系統(tǒng)

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四項(xiàng)試管支架

CH-4

CH-4四向試管支架 裝置是常用的光譜測量取樣附件，用于吸收/透射測量以及熒光測量。試管支架的四面均連接一個CL-UV準(zhǔn)直透鏡。用于吸收/透射測量時，使用兩個相對的準(zhǔn)直透鏡；用于熒光測量時，使用兩個互相垂直的準(zhǔn)直透鏡；同時用于吸收/透射測量和熒光測量時，使用四個準(zhǔn)直透鏡。